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瑞柯微炭素材料電阻率測試儀炭素材料電阻率測試儀計算公式，4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率等數據，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀...

四探針電阻率方阻測試儀、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口...

四探針涂層電阻率測試儀，配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單...

四探針涂層電阻測試儀，采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更...

四探針薄膜電阻率測試儀，半導體材料的電導性能和均勻性通過四探針法來測試，四探針測試儀根據量程可以劃分為，低阻四探針測試儀測到-6次方；高阻四探針測試儀測到7次方...

四探針薄膜電阻測試儀，手持式外型結構適用于車間生產、品管抽檢，外出、攜帶測量等要求測量的場所；也適用于中小型半導體材料生產企業.

四探針膜層電阻測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1...

四探針膜電阻測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、電阻測試

智能型方阻測試儀大顯示屏，直觀度數，穩定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統集成使用。適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜；導電（...

導電布方塊電阻測試儀，參照標準GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.GB/T155...

導電性薄膜方阻測試儀測定方法，按標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率...

四探針方塊電阻測試儀怎么用，軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度

涂層四探針電阻率測試儀現貨，參照 GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及US...

ITO導電箔膜四探針方阻測試儀操作步驟， 改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更...

高溫電阻率測試系統數據管理，高溫電阻率測試系統 生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量。用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺...

導電性陶瓷方塊電阻測試儀現貨，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、并...

太陽能電池雙電四探針測試儀批發，雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

硅晶塊方阻電阻率測試儀廠家，本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器...

涂層雙電測電四探針方阻電阻率測試儀，該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進...

導電性纖維四探針測試儀價格，本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針...